多光谱红外测温仪HIT-3

  • 品牌 : 天合

一能测量真温的红外测温仪
—国外比色测温仪器价格
采用位置色差与色场弯曲匹配技术,取消了传统辐射测温仪表中的干涉滤光片,消除了因滤光片随时间、温度及湿度漂移造成的误差,较大地提高了仪器的精度和稳定性,是辐射测温领域中的一次重大突破。
采用拟合法,无需任何表面发射率信息和辅助设备,直接求得物体的真实温度和光谱发射率。

咨询电话:18115768358

多光谱红外测温仪系列

一能测量真温的红外测温仪

—国外比色测温仪器价格

采用位置色差与色场弯曲匹配技术,取消了传统辐射测温仪表中的干涉滤光片,消

除了因滤光片随时间、温度及湿度漂移造成的误差,较大地提高了仪器的精度和稳定性,

是辐射测温领域中的一次重大突破。

采用拟合法,无需任何表面发射率信息和辅助设备,直接求得物体的真实温度和光谱发射率。

多光谱红外测温仪主要技术指标:

(1)测温范围:800~3500℃:

(2)工作波长(数):0.4um—1.lum (20)

(3)距离系数:500:1

(4)测量精度:1%

(5)测量时间:毫秒级(最小100微秒)

(6)接口: Rs—485


哈工大在多光谱辐射测温技术方面处世界领先水平,其成果已经应用于航天、军事和国防等各领域。成果于1995年荣获航天工业总公司科技进步2等奖,2002年获国防科学技术2等奖,2010年获黑龙江省自然科学2等奖,博士论文“多光谱辐射测温技术研究"荣获全国首届百名优秀博士论文奖。多光谱红外测温仪己経成功用手航天続独材料、固体火飾羽略温度励、緑作温度及航天熱物性測量等几十个场合的温度测量。

多光谱红外测温仪系列

一能测量真温的红外测温仪

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采用位置色差与色场弯曲匹配技术,取消了传统辐射测温仪表中的干涉滤光片,消

除了因滤光片随时间、温度及湿度漂移造成的误差,较大地提高了仪器的精度和稳定性,

是辐射测温领域中的一次重大突破。

采用拟合法,无需任何表面发射率信息和辅助设备,直接求得物体的真实温度和光谱

发射率。

多光谱红外测温仪主要技术指标:

(1)测温范围:800~3500℃:

(2)工作波长(数):0.4um—1.lum (20)

(3)距离系数:500:1

(4)测量精度:1%

(5)测量时间:毫秒级(最小100微秒)

(6)接口: Rs—485


哈工大在多光谱辐射测温技术方面处世界领先水平,其成果已经应用于航天、军事和国防等各领域。成果于1995年荣获航天工业总公司科技进步2等奖,2002年获国防科学技术2等奖,2010年获黑龙江省自然科学2等奖,博士论文“多光谱辐射测温技术研究"荣获全国首届百名优秀博士论文奖。多光谱红外测温仪己経成功用手航天続独材料、固体火飾羽略温度励、緑作温度及航天熱物性測量等几十个场合的温度测量。


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